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當前位置:首頁   >  產品中心   >  x射線熒光光譜儀  >  波長色散型X熒光光譜儀(WDXRF)

  • 馬爾文帕納科2830 ZT 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 圓晶分析儀專門針對半導體和數據存儲行業而設計,該儀器可為多種晶片(厚達 300 mm)測定層結構、厚度、摻雜度和表面均勻性。

    更新日期:2021-05-21
    訪問次數:5095
    產品價格:面議
    廠商性質:生產廠家
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